掃描NV探針顯微鏡SNVM

掃描NV探針顯微鏡SNVM（Scanning nitrogen-vacancy probe microscope，）是一款結合了金剛石氮-空位色心（Nitrogen-Vacancy, NV）光探測磁共振（Optically Detected Magnetic Resonance, ODMR）技術(shù)和原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM）掃描成像技術(shù)的量子精密測量?jì)x器，可實(shí)現對磁性樣品高空間分辨率、高靈敏度、定量無(wú)損的磁成像。

核心參數

應用領(lǐng)域

掃描NV探針顯微鏡用于BFO薄膜磁成像

多鐵性材料是一類(lèi)具有多種鐵電和鐵磁性質(zhì)的材料，在數據存儲、傳感器技術(shù)、自旋電子學(xué)、新型電子器件等領(lǐng)域具有廣泛的應用潛力。鐵酸鉍（BiFeO3）作為材料科學(xué)中的一個(gè)研究熱點(diǎn)，其反鐵磁性讓其磁疇的觀(guān)測變的不易。

掃描NV探針顯微鏡因具有較高的磁測量靈敏度，是一種能夠實(shí)現BFO實(shí)空間反鐵磁序測量的新手段，類(lèi)似的研究可以擴展到其他相同體系，為自旋電子學(xué)的發(fā)展指明道路。

參考文獻：Nature 549, 252 (2017)

掃描NV探針顯微鏡用于給單個(gè)磁通渦旋雜散磁場(chǎng)成像

探究超導材料的微觀(guān)機制是現代凝聚態(tài)物理的核心課題之一，對于新型超導材料研究至關(guān)重要。超導磁通渦旋可反映出超導的基本參數，如相干長(cháng)度、穿透深度以及超導能隙對稱(chēng)性等。對磁通渦旋進(jìn)行表征可為探究超導的微觀(guān)機理提供更多的實(shí)驗依據。

掃描NV探針顯微鏡能夠實(shí)現極低溫下高空間分辨、高靈敏、定量無(wú)損的磁通渦旋成像。

參考文獻：Nature Nanotech 11, 677(2016)

掃描NV探針顯微鏡用于扭曲雙層CrI3測量

二維磁性材料的發(fā)現對于自旋電子學(xué)的研究是一個(gè)新的方向，在自旋電子學(xué)器件方面有潛在應用價(jià)值。近年來(lái)實(shí)驗中發(fā)現了一批二維磁性材料，如CrI3、Fe3GeTe2等。因為二維磁性材料的磁場(chǎng)強度弱，轉變溫度低等特點(diǎn)，掃描NV探針顯微鏡具備的高靈敏度、高空間分辨率和環(huán)境兼容性，很好的滿(mǎn)足了這方面的測量需求。

參考文獻：Science 374，6571(2021)

測試案例

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